薄膜檢測專用薄膜測厚儀_自動膜材厚度測量儀

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　　厚度是軟塑包裝材料的重要性能指標(biāo)，與材料整體的性能優(yōu)劣及均勻性能息息相關(guān)。對于同種材質(zhì)的單層薄膜材料來說，材料的強度、阻隔性一般隨厚度的增加而增加，而復(fù)合膜包裝的強度及阻隔性則與材料中主要強度層、阻隔層的厚度有關(guān)。因此，及時測試材料厚度對確保包裝的性能可達到預(yù)期值具有重要意義。

　　生產(chǎn)工藝參數(shù)決定了薄膜厚度及均勻性，如模頭溫度、壓力、吹脹比等，通過對薄膜厚度的監(jiān)測可及時調(diào)整生產(chǎn)工藝，提高產(chǎn)品質(zhì)量。在測試薄膜厚度時，需要頻繁移動試樣使每兩個測試點間隔一定的距離，且環(huán)境中的輕微振動及施加到試樣表面的壓力等因素均會影響測試結(jié)果。Labthink C640測厚儀是一款高精度、高重復(fù)性的機械接觸式精密測厚儀，專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準(zhǔn)確、高效的進行連續(xù)多點測量。該測厚儀可降低機械振動、固定試驗壓力、自動移動試樣的自動測試包裝材料厚度。

　　LABTHINK蘭光 C640測厚儀試驗原理：該設(shè)備采用機械接觸式測試原理，通過位移傳感器測試薄膜材料的厚度。設(shè)備采用測量頭與傳感器一體化設(shè)計，在測試試樣之前，測量頭落在設(shè)備砧板上，傳感器讀取測量頭的初始位移值，測量頭抬起后，將試樣放置在砧板紙上，測量頭以同樣的壓力落在試樣上，傳感器讀取測量頭的位移值，兩次位移值之差則為試樣的厚度值。設(shè)備配置有自動進樣機，一個點測試完成后，自動進樣機以設(shè)定的速度驅(qū)動試樣移動，實現(xiàn)樣品自動間隔取點測試。

　　測厚儀適用范圍：(1) 適用于各種塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、紙板、復(fù)合紙板等材料的厚度測定，并可擴展至硅片，箔片，各種金屬片，瓦楞紙板，編織物、針織物、涂層織物等紡織材料，尿不濕、衛(wèi)生巾、口罩等非織造布，固體絕緣材料，膠粘帶，土工合成材料，橡膠等材料厚度的測試。(2) 可滿足國內(nèi)外多項國家、國際標(biāo)準(zhǔn)，如GB/T 6672、ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702等。